3AP-CJ-480B8-sop封装高低温冲击试验箱

sop封装高低温冲击试验箱主要用于对光电、LED、电器、电子材料、各种元器件、工业产品零部件或成品、金属材料等产品在模拟高温冲击、低温冲击或高低温瞬间冲击变化的条件下是否适应性试验，对工业产品的物理以及其它相关性能进行测试。主要对定型产品进行可靠性鉴定或验收，在研制阶段用以暴露试制工业产品各方面的缺陷，评价工业产品其可靠性达到预定指标的情况；暴露和分析产品在不同温度环境和应力条件下的失效规律及有关的失效模式和失效机理；生产阶段为监控生产过程提供信息；为改进工业产品可靠性，制定和改进可靠性试验方案，为用户选用好产品提供重要的依据。

sop封装高低温冲击试验箱技术参数：

温度暴露范围：60℃~200℃

预热温度上限：200℃

温度波动范围：≤±2℃

温度上升时间：室温200℃≥45min

温度暴露范围：0℃/-75℃

预热温度下限：-75℃

温度波动范围：≤±2℃

温度降温时间：-75℃≤60min

测试温度范围：A:-40℃～150℃ B:-55℃～150℃C:-65℃～150℃

温度波动：高温室及低温室均≤±2℃

样品区温度波动：≤±0.5℃(恒温时)

安装场地：

1.要求摆放试验箱的地面平整，通风良好，室温不能超过28度以下，确保设备制冷系统正常）

2.要求试验箱周围无强烈振动、因为长久的强烈振动会导致设备部分零配件松动或者移位，影响设备的寿命与增加故障率。

3.要求试验箱周围无强电磁场影响，否则因此造成或者导致的一切后果本公司一律不负责任。

4.试验箱周围强烈要求无腐蚀性物质、易燃、易爆和粉尘出入的情况出现。免得设备因为意外报废不在保修范围内。