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品牌 | 爱佩科技 | 产地 | 国产 |
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尺寸 | 根据客户需求设计 |
电子产品高温老化房是针对电子产品(如:计算机整机,显示器,终端机,车用电子产品,电源供应器,主机板、监视器、交换式充电器等)仿真出一种高温、恶劣环境测试的设备,是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备、是各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程,该设备广泛应用于电源电子、计算机、通讯、生物制药等领域。根据不同的要求配置主体系统、主电系统、控制系统、加热系统、温度控制系统、风力恒温系统、时间控制系统、测试负载等,通过此测试程序可检杳出不良品或不良件,是客户迅速找出问题、解决问题提供有效手段。
电子产品高温老化房技术参数:
内箱尺寸:3000 *1700 *1100mm (W* H *D)
满足标准:·GB/TT2423.2-2008试验B:高温试验方法等
温度范围:RT+20~100℃
升降温速率:(非线性 空载)约3℃/min
温度稳定度:±0.5℃
温度解析精度:0.01℃
温度均匀度:±2.0℃
高温超温保护:运转控制温度高、低温过温保护设定
测试区超温保护:加装超温保护装置,以防控制器有异常状况发生时导致温度过高损坏测试样品。
故障检知控制界面:外部故障自动侦测保护装置
动态高低温保护:配合设定条件动态调整高低温保护值.
常温保护:停机后机台待测品&测试区自动降常温保护
内外箱材质:测试区内箱不锈钢板 (SUS#304),外箱烤漆或不锈钢
同温层结构设计:有效避免箱体顶部凝结之技术
测试孔:可外接测试电源线及信号用 (直径50mm)
机台滑轮:采滑轮移动调整摆放位置与强力螺栓固定位置(200Kg / 轮 )
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