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芯片冷热冲击测试箱

简要描述:芯片冷热冲击测试箱是一款用来做温度快速冲击实验的设备,*快高低温从-40度冲至85度可在2秒钟内达到高低温转换,5分钟内稳定。

  • 产品型号:AP-CJ
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2023-05-01
  • 访 问 量:587

详细介绍

品牌 爱佩科技 加工定制
分类 冲击试验箱 内箱材质 不锈钢
外箱材质 烤漆 温度范围 -70℃~+150℃℃
波动/均匀度 ±2℃℃ 功率 24kwkw
电源电压 380Vv 工作室尺寸 我司有多种尺寸可提供mm
外形尺寸 我司有多种尺寸可提供mm 适用范围 金属、塑料、橡胶、科研等各行业

芯片冷热冲击测试箱是一款用来做温度快速冲击实验的设备,*快高低温从-40度冲至85度可在2秒钟内达到高低温转换,5分钟内稳定。也是一款用于做温度破坏型的实验设备。实验用冲击箱根据实验需求及测试标准分为三箱式和两箱式,区别在于实验方式和内部结构不同。三箱式分为蓄冷室,蓄热室和实验室,产品在测试时是放置在实验室。两箱式分为高温室和低温室,是通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换,产品放在提篮里,是随提篮一起移动的。用户可根据自己有实际需求选择相关规格型号。

技术参数:

1、实验可选温度范围:A:-40150℃、B-55150℃、C-65150

2、低温蓄冷箱:-5510℃、-6510℃、-7510℃、

3、高温蓄热箱:RT+10℃~160℃;RT+10℃~180℃;RT+10℃~200

4、温度波动度:高温室与低温室均≤±2;样品区温度波动≤±0.5℃(恒温时);

5、标准配置多层加热触霜附照明玻璃视窗1套、试品架2个、测试引线孔(2550mm1个;

6、温度转换时间:温度转换时间从低温区到高温区或从高温区到低温区 ≤10S

7、温度回复时间≤5min(与温度恢复条件有关,既冷却水温、暴露温差、恒温时间、样品重量有关)

8、电源要求:AC380(±10%V/50HZ三相五线制.

芯片冷热冲击测试箱产品特点:

1.现有标准型号可满足不同试验需求,也可根据顾客需求特殊化提供定制服务。

2.高质感箱体外观采用圆弧造型设计

3采用平面无反作用把手易操作、安全可靠

4.箱体板金结构及结构件均采用德国通快数控机床(CNC)高精度加工成型

5.长方形复层钢化玻璃观察窗口附照明灯,可随时观察试验中试验品的状况

6.箱门双层隔绝气密迫紧,可有效隔绝内部温度泄漏

7.独立的加热系统采用镍铬合金加热器实现快速升温

8.制冷系统采用法国泰康全封闭压缩机或欧美半封闭压缩机(如比泽尔)水冷(或风冷),环保冷媒(HFC-

404 / HFC-23)

9.管路系统采用固定夹片及防振软管的能有效地支撑同时也能缓解运输或设备运转中产生

14.触摸屏控制器,120程度,2个段或3个段.每一個命令可達999;程式段時間設定099Hour59Min

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