三箱温度冲击试验箱特点：
1．采用LCD中英文显示触摸式温湿度控制器，操作简单，程式编辑容易。
2．可显示完整的系统操作状况相关资料、设定程式曲线、开机注意事项、机器维护保养方法。
3.运转中发生异常状况，萤幕上即刻自动显示故障原因并提供排除故障方法。
4.采用多巽式送风机送风循环，温度分布均匀。
5．可加装记录器，将温湿度曲线记录。
6．附R232接口，可电脑连接操作。
三箱温度冲击试验箱满足的试验方法有：GB/T2423.22-1989温度变化试验；GB/T2423.2-1989高温试验方法；GB/T2423.1-1989低温试验方法；GJB360.7-87温度冲击试验；GJB150.5-86温度冲击试验；IEC68-2-14_试验方法N_温度变化；GJB367.2-87405温度冲击试验；GB/T2423.22-2002温度变化；GB/T2424.13-2002试验方法温度变化试验导则；EIA364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估等等。
内尺寸可选择：宽36*高35*深40cm；二：宽50*高40*深40cm；三：宽60*高50*深50cm；四：宽70*高60*深60cm；五：宽100*高100*深100cm。
温度范围（范围内任选）可以选择，A：-40℃~150℃；B：-55℃~150℃；-65℃~150℃，高温影响价格不大，所以般默认为150度限高温。
温度转换时间:10秒以内,温度冲击恢复时间：≤5min。
温度波动度：±0.5℃;温度偏差：±2℃
三箱温度冲击试验箱用途：
该产品适用于电子元器件的安性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。
二箱式：上部为高温箱，下部为低温箱，两箱之间由样品架连结，经气动系统在两箱间切换。
三箱式：该冲击试验箱为待测品静置之冷热交替冲击方式，广泛使用于电子零组件测试，半导体，电子线路板，金属化学，材料等测试设备。试验箱下部为低温蓄冷区，上部为高温蓄热区，试件（待测品）放置在试验箱中部，高温冲击时，上风门打开，形成高温内循环。低温冲击时，上风门关闭，下风门打开，形成低温内循环。该冲击试验箱的特点是：试件（待测品）静止不动，使用户避免了因试件移动带来的诸多不便。
该产品适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验，产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。
三箱温度冲击试验箱门与循环风机，提蓝传动等互锁，保护操作者的安全，一旦打开箱门，循环风机和提蓝传动的电源会被自动切断。在箱顶有标准引线孔管，方便用户向箱内引入传感器线，检测电缆等类型引线。
制冷系统：制冷系统及压缩机:为了保证试验箱降温速率和低温度的要求，本试验箱采用一套全封闭压缩机所组成的二元复叠式风冷制冷系统。复叠式冷系统包含一个高温制冷循环和一个低温制冷循环，其连接容器为蒸发冷凝器，蒸发冷凝器是也到能量传递的作用，将工作室内热能通过两级制冷系统传递出去，实现隆温的目的。
控制系统：主控制器采用双回路高度液晶显示触摸按键温度控制器。该控制器采用液晶显示触摸屏，可显示设定参数、试验曲线、运行时间、加热器工作状态，PID参数自整定功能。
三箱温度冲击试验箱是根据用户要求设计制造，适用于航空、电子等产品整机及零部件的高低温冲击试验及高温或低温环境下的贮存和试验。供用户对整机(或部件)、电器、仪器、材料、涂层、镀层等作相应的气候环境加速试验，以便对试品或试品试验行为作出评价。产品外形美观、结构合理、选材考究，具有简单便利的操作性能和可靠的设备性能，设备分为高温箱，低温箱，测试箱三部分，试验时待测物静止，应用冷热风路切换方式将冷，热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的。
试验箱采用计测装置，控制器采用大型彩色液晶人机触控对话式LCD人机接口控制器，操作简单，学习容易，稳定可靠，中，英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线。具96个试验规范独立设定，冲击时间999小时59分钟，循环周期1~999次可设定，可实现制冷机自动运转，实现自动化，减轻操作人员工作量，可在任意时间自动启动、停止工作运行。
箱体左侧具一直径50mm之测试孔，可供外加电源负载配线测试部件，可设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，并于执行冷热冲击条件时，可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能，具备高低温试验机的功能，具备全自动，高密系统回路、任一机件动作，有P.L.C锁定处理，全部采用P.I.D自动演算控制，温度控制度高，空气流通循环设计，使室内温度均匀，避免任何死角;完备的安全保护装置，避免了任何可能发生安全隐患，保证设备的长期可靠性。
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